近場(chǎng)探頭的特色達(dá)到的近場(chǎng)測(cè)量的目的
　　近場(chǎng)探頭組包含4個(gè)無(wú)源磁場(chǎng)探頭和1無(wú)源電場(chǎng)探頭，所有探頭的頻率范圍為30MHz到6GHz，用于在研發(fā)階段測(cè)量磁場(chǎng)和電場(chǎng)。由于在探頭內(nèi)部配置了阻抗匹配器，該探頭組與其他探頭相比，在低頻區(qū)較不敏感。使用XF1系列的探頭，可以逐步辨識(shí)電子模塊中的干擾磁場(chǎng)源。例如，首先用XF-R400-1型探頭檢測(cè)電子模塊總體發(fā)射出的干擾場(chǎng)，然后再用高分辨率探頭更準(zhǔn)確地識(shí)別干擾源。電場(chǎng)探頭用于檢測(cè)電子模塊表面的干擾電場(chǎng)。通過相應(yīng)地操作近場(chǎng)探頭，能夠測(cè)量出電磁場(chǎng)的方向及其分布。
　　近場(chǎng)探頭的特色:
　　寬帶率范圍的探頭可以完成幾乎所有的測(cè)試任務(wù)。
　　通過移動(dòng)探頭可以檢測(cè)出磁場(chǎng)的方向和分布，適用于IC引腳區(qū)域、濾波電容、EMC器件等的磁場(chǎng)檢測(cè)；電場(chǎng)近場(chǎng)探頭可以檢測(cè)導(dǎo)體表面產(chǎn)生的電場(chǎng)。
　　無(wú)源探頭，可以直接連到頻譜分析儀或者示波器的50歐姆輸入端，方便檢查使用不同手段對(duì)磁場(chǎng)或者電流的變化。
　　使用方便，重量輕，安裝快捷。
　　1）近場(chǎng)測(cè)量的目的
　　近場(chǎng)測(cè)量方法得到的信息，能定位干擾源，從而采取相應(yīng)措施以減少電磁干擾。EMC標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)證測(cè)試，是遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試。遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試能給出頻率信息，即哪些頻點(diǎn)超標(biāo)了，但是沒有位置信息。為了通過測(cè)試，需要從源頭上來采取措施，所以需要應(yīng)用近場(chǎng)測(cè)量來尋找干擾源。
　　2）近場(chǎng)探頭的用途
　　近場(chǎng)探頭主要應(yīng)用于查找干擾源，判定干擾產(chǎn)生的原因。
　　可以檢測(cè)器件或者是表面的磁場(chǎng)方向及強(qiáng)度。
　　可以檢測(cè)磁場(chǎng)耦合的通道，從而調(diào)整連接器或者是顯示器位置
　　可以檢測(cè)模塊附近的磁場(chǎng)環(huán)境情況。了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的，通過近場(chǎng)測(cè)量可以很方便的實(shí)現(xiàn)定位的功能，甚至可以到IC引腳以及具體的走線。
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