產(chǎn)品中心Products 當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 電磁兼容測(cè)試 > 用于開(kāi)發(fā)過(guò)程的發(fā)生器
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P1 set迷你型場(chǎng)脈沖發(fā)生器
P1 set迷你型場(chǎng)脈沖發(fā)生器迷你型脈沖群發(fā)生器的結(jié)構(gòu)小巧,可用于開(kāi)發(fā)過(guò)程中排除電子組件的電磁薄弱點(diǎn)。在發(fā)生器的頭部能發(fā)出突發(fā)干擾場(chǎng)和靜電放電干擾場(chǎng).
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S2 set E1 磁場(chǎng)探頭
電子設(shè)備和電子元件在干擾作用下會(huì)產(chǎn)生快速瞬態(tài)脈沖磁場(chǎng),S2 set E1 磁場(chǎng)探頭組中包含的有源和無(wú)源磁場(chǎng)探頭可以無(wú)反饋地測(cè)量這些快速瞬態(tài)脈沖磁場(chǎng)。
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PCBA印刷電路板抗干擾開(kāi)發(fā)系統(tǒng)
PCBA印刷電路板抗干擾開(kāi)發(fā)系統(tǒng) E1 set是一套集成電路板開(kāi)發(fā)過(guò)程中進(jìn)行抗干擾分析的 EMC工具系統(tǒng)。
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